Publication detail

Introduce Scanning Probe Microscopy into Education

HÁJKOVÁ, Z. FEJFAR, A. LEDINSKÝ, M. PÍČ, V. KŘÍŽEK, F. ŠULC, D. NOVÁČEK, Z. WERTHEIMER, P.

Czech title

Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou

English title

Introduce Scanning Probe Microscopy into Education

Type

journal article in Web of Science

Language

cs

Original abstract

Mikroskopie skenující sondou (scanning probe microscopy, SPM; též rastrovací sondová či hrotová mikroskopie) patří mezi moderní mikroskopické metody běžně používané ve fyzikálních, chemických i biologických laboratořích. SPM totiž umožňuje nahlížet do nanosvěta – dovoluje zobrazovat a charakterizovat povrchy vzorků na úrovni nanometrů (i menší).

Czech abstract

Mikroskopie skenující sondou (scanning probe microscopy, SPM; též rastrovací sondová či hrotová mikroskopie) patří mezi moderní mikroskopické metody běžně používané ve fyzikálních, chemických i biologických laboratořích. SPM totiž umožňuje nahlížet do nanosvěta – dovoluje zobrazovat a charakterizovat povrchy vzorků na úrovni nanometrů (i menší).

English abstract

Contemporary chemistry, physics, as well as biology frequently deal with the structure of matter at nanoscale level. One of the most important techniques used for imaging and measuring surfaces at the nanoscale (sometimes even with atomic resolution) is the scanning probe microscopy (SPM). SPM is an important up-and-coming technique in both academic sphere and industry. For this reason, concepts underlying SPM should be mentioned in secondary education, at least for students with an interest in science and technical subjects. In order to introduce SPM into secondary science education, various teaching approaches might be followed. In this contribution, special attention is paid to simple models and analogies of SPM to illustrate the basic SPM principles.

Keywords in Czech

mikroskopie skenující sondou; skenovací tunelová mikroskopie; mikroskopie atomárních sil; modely; demonstrace; analogie; výukové materiály

Keywords in English

scanning probe microscopy; Scanning Tunneling Microscopy; atomic force microscopy; models; the demonstration; the analogy; teaching materials

Released

15.01.2016

ISSN

1213-7103

Volume

110

Number

1

Pages from–to

153–159

Pages count

7

BIBTEX


@article{BUT123990,
  author="Zdeňka {Hájková} and Jan {Čechal} and Antonín {Fejfar} and Martin {Ledinský} and Vlastimil {Píč} and Filip {Křížek} and Dalibor {Šulc} and Zdeněk {Nováček} and Pavel {Wertheimer},
  title="Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou",
  year="2016",
  volume="110",
  number="1",
  month="January",
  pages="153--159",
  issn="1213-7103"
}