Publication detail
In situ Monitoring of Thin Film Optical Parameters
URBÁNEK, M. SPOUSTA, J. ŠIKOLA, T. ZLÁMAL, J. CHMELÍK, R. HARNA, Z. JIRUŠE, J. JÁKL, M.
Czech title
In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev
English title
In situ Monitoring of Thin Film Optical Parameters
Type
journal article - other
Language
cs
Original abstract
V článku je popsáno využití zařízení pro in situ monitorování homogenity optických parametrů pomocí spektroskopické interferometrie. K detekci odraženého světla je použita kombinace CCD kamery a vláknového spektrometru. Provedená ex situ měření ukázala použitelnost této metody ke sledování růstu tenkých slabě absorbujících vrstev přímo v průběhu jejich depozice.
Czech abstract
V článku je popsáno využití zařízení pro in situ monitorování homogenity optických parametrů pomocí spektroskopické interferometrie. K detekci odraženého světla je použita kombinace CCD kamery a vláknového spektrometru. Provedená ex situ měření ukázala použitelnost této metody ke sledování růstu tenkých slabě absorbujících vrstev přímo v průběhu jejich depozice.
English abstract
In the paper the basic principles of an instrument for the monitoring of areal homogenity of thickness and optical properties of thin films developed in the Institute of Physical Engineering at Brno University of Technology are reported. A special attention is paid ti applications of the instrument for in situ experiments carried out in a high-vacuum etching and deposition apparaturus IBAD
Keywords in English
IBAD, homogenity, thin films
RIV year
2001
Released
01.04.2001
ISSN
0447-6441
Journal
Jemná mechanika a optika
Volume
46
Number
4
Pages count
3
BIBTEX
@article{BUT40057,
author="Stanislav {Voborný} and Michal {Urbánek} and Tomáš {Šikola} and Jakub {Zlámal} and Radim {Chmelík} and Zdeněk {Harna} and Jaroslav {Jiruše} and Miloš {Jákl},
title="In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev",
journal="Jemná mechanika a optika",
year="2001",
volume="46",
number="4",
month="April",
issn="0447-6441"
}