Publication detail

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

TICHOPÁDEK, P.

Czech title

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

English title

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Type

conference paper

Language

cs

Original abstract

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

Czech abstract

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

English abstract

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Keywords in English

Ellipsometry

RIV year

2001

Released

05.12.2000

Publisher

Vutium

Location

Brno

Book

II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI

Pages count

4

BIBTEX


@inproceedings{BUT4506,
  author="Petr {Tichopádek},
  title="In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů",
  booktitle="II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI",
  year="2000",
  month="December",
  publisher="Vutium",
  address="Brno"
}