Product detail
IonProfile
BÁBOR, P. DUDA, R. ŠIKOLA, T. PAVERA, M. POLČÁK, J.
Czech title
IonProfile
English title
IonProfile
Type
software
Czech abstract
Soubor programů umožňující řízení hloubkových profiloměrů SIMS, TOF-LEIS a XPS. Jsou zde zahrnuty programy pro zpracování a simulace měřených dat metodou TOF-LEIS.
English abstract
Software package for controlling of SIMS, TOF-SIMS and XPS profilometers. It includes software for evaluation and simulation of TOF-LEIS measured data.
Create date
18.12.2009
Location
Laboratoř 518
WWW