Detail produktu
IonProfile
BÁBOR, P. DUDA, R. ŠIKOLA, T. PAVERA, M. POLČÁK, J.
Český název
IonProfile
Anglický název
IonProfile
Typ
software
Český abstrakt
Soubor programů umožňující řízení hloubkových profiloměrů SIMS, TOF-LEIS a XPS. Jsou zde zahrnuty programy pro zpracování a simulace měřených dat metodou TOF-LEIS.
Anglický abstrakt
Software package for controlling of SIMS, TOF-SIMS and XPS profilometers. It includes software for evaluation and simulation of TOF-LEIS measured data.
Datum vzniku
18.12.2009
Umístění
Laboratoř 518
WWW