Detail předmětu
Metody strukturní analýzy
FSI-WA1 Ak. rok: 2018/2019 Letní semestr
Světelná mikroskopie (metody, principy, aplikace), obrazová analýza, .Interakce elektronů s hmotou. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM a STEM),elektronová difrakce.Princip HV TEM a HR TEM. Rastrovací elektronová mikroskopie. Environmentální EM. Iontová mikroskopie.
Lokální analýza v TEM a REM (s využitím buzeného rtg. záření, augerových elektronů, spektroskopie elektronových ztrát). Metoda EBSD. Rtg. difraktometrie.
Vybrané spektroskopické metody.Metody s rastrující sondou. Mikro- a nanotomografie.Ramanovská spektroskopie.
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
5
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Znalost principů a aplikační možnosti základních metod strukturní
a fázové analýzy, včetně postupů odběru a přípravy vzorků.
Prerekvizity
Studium experimentálních metod používaných pro analýzu struktury (morfologie a fázového složení) materiálů vyžaduje základní znalosti fyziky a matematiky na úrovni poskytované v průběhu bakalářského studia, a také znalosti materiálových věd a inženýrství – alespoň na úrovni absolventa bakalářského studia strojního inženýrství.
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny. Výuka je doplněna laboratorním cvičením.
Způsob a kritéria hodnocení
Zkouška je písemná a ústní,pro udělení zápočtu je nezbytné vypracování zadaných okruhů problémů.
Učební cíle
Cílem kurzu je poskytnout studentům přehled a v menší míře
i teoretické znalosti a princip všech základních metod pro
strukturní a fázovou analýzu (fyzikální principy metod, parametry
přístrojů,aplikační šíře metod atd), včetně přípravy vzorků. Na
praktických aplikacích metod získají studenti základní přehled o
metodických postupech při řešení problémů a analýze výsledků.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Povinná je účast ve cvičeních,případná absence je řešena individuelně,obvykle náhradním zadáním.
Použití předmětu ve studijních plánech
Program M2A-P: Aplikované vědy v inženýrství, magisterský navazující
obor M-FIN: Fyzikální inženýrství a nanotechnologie, povinný
Program M2A-P: Aplikované vědy v inženýrství, magisterský navazující
obor M-MTI: Materiálové inženýrství, povinný
Typ (způsob) výuky
Přednáška
39 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
1. Úvod k metodám strukturní analýzy, světelná a konfokální mikroskopie
2. Úvod k metodám elektronové mikroskopie (interakce elektronů s hmotou, zavedení/opakování základních pojmů, zdroje elektronů)
3. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM,STEM)
4. Elektronová difrakce, využití zobrazení v tmavém poli, princip HR TEM
5. Rastrovací elektronová mikroskopie, nízkovakuová a environmentální SEM,mikroskopie s iontovým svazkem(FIB),dual beam mikroskopie FIB/SEM
6. Lokální analýza chemického složení v TEM a SEM(přehled metod, princip disperze dle energie a vlnové délky,detekce podle EDS)
7. Detektory WDS, princip spektroskopie energiových ztrát a AES,metoda EBSD
8. Spektroskopické metody OES-optická emisní spektroskopie,princip, metody,ICP OES,GDOES
9. Spektrometrické metody (RTG spektroskopie,spalovací analyzátory)
10.Metody s rastrující sondou (SPM)
11. Mikro-a nanotomografie,Ramanova spektroskopie
12. RTG difrakční analýza
13. Využití analytických metod ve vědě, výzkumu a při češení výrobních problémů, stručná charakteristika dalších metod (XPS,SIMS,LEIS aj.)