Detail předmětu

Metody a prostředky technické diagnostiky

FSI-XTD-K Ak. rok: 2019/2020 Letní semestr

Obsahem kurzu je seznámení účastníků s pokročilými metodami a prostředky měření s nanometrovým rozlišením.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

4

Výsledky učení předmětu

Osvojení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty zobrazovacích a měřicích metod.

Prerekvizity

Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II a Metrologická fyzika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Předmět je vyučován formou přednášek podpořených sadou laboratorních cvičení.

Způsob a kritéria hodnocení

Zkouška skládající se z ústní a písemné části. Aktivní účast na cvičeních a vypracování písemných zpráv.

Učební cíle

Vyložit fyzikální principy vybraných zobrazovacích a měřicích metod a činnosti měřicích přístrojů a zařízení.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Účast na cvičeních je povinná.

Použití předmětu ve studijních plánech

Program M2I-K: Strojní inženýrství, magisterský navazující
obor M-KSB: Kvalita, spolehlivost a bezpečnost, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Konzultace v kombinovaném studiu

4 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Obecné pojmy a teorie. Statistika měření a zpracování chyb: rozdělení náhodných veličin: normální rozdělení, rovnoměrné rozdělení. Zákon přenosu chyb. Zpracování výsledků přímých a nepřímých měření.

Senzory: senzory obecná klasifikace. Kapacitní senzory. Indukční a indukčnostní senzory.

Diagnosticko-zobrazovací techniky: Michelsonova interferometrie, rentgenovská analýza a radiační defektoskopie, rastrovací elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, rastrovací tunelová mikroskopie.

Laboratorní cvičení

9 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Laboratorní úlohy:
Polarizace
Difrakce
Fotometrie
Vláknová optika
LCD display

Kolektivní demonstrace:
CT – Počítačová tomografie pro průmyslová využití
LIBS – laserová ablace
SEM – rastrovací elektronová mikroskopie
AFM – mikroskopie atomárních sil
STM – rastrovací tunelová mikroskopie