Detail předmětu
Metody a prostředky technické diagnostiky
FSI-XTD-K Ak. rok: 2019/2020 Letní semestr
Obsahem kurzu je seznámení účastníků s pokročilými metodami a prostředky měření s nanometrovým rozlišením.
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
4
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Osvojení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty zobrazovacích a měřicích metod.
Prerekvizity
Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II a Metrologická fyzika.
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Předmět je vyučován formou přednášek podpořených sadou laboratorních cvičení.
Způsob a kritéria hodnocení
Zkouška skládající se z ústní a písemné části. Aktivní účast na cvičeních a vypracování písemných zpráv.
Učební cíle
Vyložit fyzikální principy vybraných zobrazovacích a měřicích metod a činnosti měřicích přístrojů a zařízení.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Účast na cvičeních je povinná.
Použití předmětu ve studijních plánech
Program M2I-K: Strojní inženýrství, magisterský navazující
obor M-KSB: Kvalita, spolehlivost a bezpečnost, povinný
Typ (způsob) výuky
Konzultace v kombinovaném studiu
4 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Obecné pojmy a teorie. Statistika měření a zpracování chyb: rozdělení náhodných veličin: normální rozdělení, rovnoměrné rozdělení. Zákon přenosu chyb. Zpracování výsledků přímých a nepřímých měření.
Senzory: senzory obecná klasifikace. Kapacitní senzory. Indukční a indukčnostní senzory.
Diagnosticko-zobrazovací techniky: Michelsonova interferometrie, rentgenovská analýza a radiační defektoskopie, rastrovací elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, rastrovací tunelová mikroskopie.
Laboratorní cvičení
9 hod., povinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Laboratorní úlohy:
Polarizace
Difrakce
Fotometrie
Vláknová optika
LCD display
Kolektivní demonstrace:
CT – Počítačová tomografie pro průmyslová využití
LIBS – laserová ablace
SEM – rastrovací elektronová mikroskopie
AFM – mikroskopie atomárních sil
STM – rastrovací tunelová mikroskopie