Detail předmětu

Speciální praktikum I

FSI-TS Ak. rok: 2022/2023 Letní semestr

Praktikum obsahuje náročné experimentální úkoly, které vyžadují komplexní přípravu studenta k řešení zadaného tématu. Úlohy zahrnují oblast vakuové fyziky a techniky, světelné optiky, iontové a elektronové optiky, fyzikálních technologií a měření vlastností a analýzy materiálů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

4

Garant předmětu

doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství

Výsledky učení předmětu

Schopnost samostatně experimentovat a komunikovat výsledky na odpovídající úrovni písemnou a verbální formou.

Prerekvizity

Atomová fyzika, fyzika pevných látek, kvantová fyzika, statistická fyzika a termodynamika, vakuová fyzika a technologie, geometrická a vlnová optika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Výuka je založena na individuální praktické činnosti na vybraných experimentálních sestavách. Každí téma má svoji úvodní a pokročilou část, která navazuje ve druhém týdnu.

Způsob a kritéria hodnocení

Hodnocení bude provedeno na základě předložených protokolů z měření a následné diskuse získaných výsledků. Účast je povinná, v případě závažných důvodů lze některá z měření po individuální domluvě nahradit.

Učební cíle

Studenti nabudou praktickou zběhlost při experimentální činnosti, získávání a zpracování výsledků a jejich následné analýze a interpretaci.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.

Použití předmětu ve studijních plánech

Program B-FIN-P: Fyzikální inženýrství a nanotechnologie, bakalářský, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Laboratorní cvičení

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Ing. Martin Konečný, Ph.D.
Ing. Katarína Rovenská

Osnova

Na výuce se podílejí také studenti doktorského studia.

Rastrovací elektronová mikroskopie.
Rastrovací tunelovací mikroskopie.
Mikroskopie atomárních sil.
Rentgenová difrakční spektroskopie.
Měření transportních vlastností grafenu.
Měření magnetické susceptibility.