Detail předmětu
Měřicí technika
FSI-XMT Ak. rok: 2022/2023 Letní semestr
Předmět seznamuje studenty s principem počítačově podporovaných měřících systémů. Jsou představeny možné chyby měření těchto systémů, jejich korekce a způsoby vyhodnocení naměřených údajů.
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
4
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Student/ka je po absolvování předmětu schopný/á navrhnout jednoduché měřící systémy sestavené ze standardních komponent např. pro měření délky, teploty, polohy, atd. Naměřené údaje systematicky vyhodnotit a analyzovat možné chyby měřícího řetězce.
Prerekvizity
U studentů se předpokládá základní znalosti z metrologie, elektrotechniky a práce s PC.
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny. Výuka je doplněna laboratorním cvičením.
Dle možností budou pro studenty organizovány přednášky odborníků z praxe a exkurze do firem zabývajících se činnostmi souvisejícími s obsahem předmětu.
Způsob a kritéria hodnocení
Podmínky udělení zápočtu:
100% absolvování cvičení a uznání vypracovaných elaborátů.
Zkouška :
Je písemná a ústní. Prověřuje znalosti studenta a jeho schopnost jejich
praktického použití.
Učební cíle
Cílem předmětu je seznámení posluchačů s počítačově podporovanými měřícími systémy.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Cvičení jsou povinná. Kontroluje se účast. Neúčast je možno nahradit po dohodě s učitelem.
Použití předmětu ve studijních plánech
Program N-KSB-P: Kvalita, spolehlivost a bezpečnost, magisterský navazující, povinný
Typ (způsob) výuky
Přednáška
26 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
1. Princip počítačem podporovaného měřícího systému
2. Typické analogové a digitální senzory
3. Princip funkce A/D a D/A převodníku, chyby převodu
4. Vzorkování, chyba vzorkování, filtr
5. Grafické systémy pro on-line zpracování naměřených údajů (LabView)
6. Analýza naměřených údajů (statistické vyhodnocení)
7. Analýza naměřených údajů (frekvenční analýza, digitální filtrování)
8. Možné chyby měření u počítačově podporovaných měřících systémů
9. Chyby měření a jejich korekce
10. Struktury měřících systémů
11. Vlastnosti měřících systémů
12. Analýza FMEA – nástro pro identifikaci potenciálních chyb v měřícím řetězci
13. Princip tunelového rastrovacího mikroskopu a mikroskopu atomových sil
Laboratorní cvičení
26 hod., povinná
Vyučující / Lektor
Osnova
C1.Určení korekční tabulky přesnosti polohování obráběcího stroje. Výpočet statistických ukazatelů
C2.Měření dynamických dějů (snímače vibrací, vysokorychlostní kamera)
C3.Určení obalové a gaussovy roviny
C4.Návrh a realizace měřícího systému s podporou LabView
C5.Ověření měřícího systému z cvičení C4 a vypracováni ověřovacího protokolu
C6.Vyhodnocení odchylky tvaru
C7.Závěrečné hodnocení cvičení a udělování zápočtů