Detail předmětu

Měřicí technika

FSI-XMT-K Ak. rok: 2025/2026 Letní semestr

Předmět seznamuje studenty s principem počítačově podporovaných měřících systémů. Jsou představeny možné chyby měření těchto systémů, jejich korekce a způsoby vyhodnocení naměřených údajů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

4

Vstupní znalosti

U studentů se předpokládá základní znalosti z metrologie, elektrotechniky a práce s PC.

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Podmínky udělení zápočtu:
100% absolvování cvičení a uznání vypracovaných elaborátů.
Zkouška :
Je písemná a ústní. Prověřuje znalosti studenta a jeho schopnost jejich
praktického použití.
Cvičení jsou povinná. Kontroluje se účast. Neúčast je možno nahradit po dohodě s učitelem.

Učební cíle

Cílem předmětu je seznámení posluchačů s počítačově podporovanými měřícími systémy.
Student/ka je po absolvování předmětu schopný/á navrhnout jednoduché měřící systémy sestavené ze standardních komponent např. pro měření délky, teploty, polohy, atd. Naměřené údaje systematicky vyhodnotit a analyzovat možné chyby měřícího řetězce.

Použití předmětu ve studijních plánech

Program N-KSB-K: Kvalita, spolehlivost a bezpečnost, magisterský navazující, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Konzultace v kombinovaném studiu

9 hod., povinná

Osnova

1. Princip počítačem podporovaného měřícího systému
2. Typické analogové a digitální senzory
3. Princip funkce A/D a D/A převodníku, chyby převodu
4. Vzorkování, chyba vzorkování, filtr
5. Grafické systémy pro on-line zpracování naměřených údajů (LabView)
6. Analýza naměřených údajů (statistické vyhodnocení)
7. Analýza naměřených údajů (frekvenční analýza, digitální filtrování)
8. Možné chyby měření u počítačově podporovaných měřících systémů
9. Chyby měření a jejich korekce
10. Struktury měřících systémů
11. Vlastnosti měřících systémů
12. Analýza FMEA – nástro pro identifikaci potenciálních chyb v měřícím řetězci
13. Princip tunelového rastrovacího mikroskopu a mikroskopu atomových sil

Konzultace

34 hod., nepovinná

Osnova

1. Princip počítačem podporovaného měřícího systému
2. Typické analogové a digitální senzory
3. Princip funkce A/D a D/A převodníku, chyby převodu
4. Vzorkování, chyba vzorkování, filtr
5. Grafické systémy pro on-line zpracování naměřených údajů (LabView)
6. Analýza naměřených údajů (statistické vyhodnocení)
7. Analýza naměřených údajů (frekvenční analýza, digitální filtrování)
8. Možné chyby měření u počítačově podporovaných měřících systémů
9. Chyby měření a jejich korekce
10. Struktury měřících systémů
11. Vlastnosti měřících systémů
12. Analýza FMEA – nástro pro identifikaci potenciálních chyb v měřícím řetězci
13. Princip tunelového rastrovacího mikroskopu a mikroskopu atomových sil

Laboratorní cvičení

9 hod., povinná

Osnova

C1.Určení korekční tabulky přesnosti polohování obráběcího stroje. Výpočet statistických ukazatelů
C2.Měření dynamických dějů (snímače vibrací, vysokorychlostní kamera)
C3.Určení obalové a gaussovy roviny
C4.Návrh a realizace měřícího systému s podporou LabView
C5.Ověření měřícího systému z cvičení C4 a vypracováni ověřovacího protokolu
C6.Vyhodnocení odchylky tvaru
C7.Závěrečné hodnocení cvičení a udělování zápočtů