Detail publikace

Analýza rozhraní a hloubkového profilu tenkých vrstev magnetických tenkých vrstev.

VAIS, J. ŽENÍŠEK, J. JURKOVIČ, P. ČECHAL, J. DITTRICHOVÁ, L. SPOUSTA, J. BOCHNÍČEK, Z. ŠIKOLA, T.

Český název

Analýza rozhraní a hloubkového profilu tenkých vrstev magnetických tenkých vrstev.

Anglický název

Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

en

Originální abstrakt

Deposition and analysis of utrathin multilayers by IBAD.

Český abstrakt

Depzice a analýza ultratenkých magnetických vrstev.

Anglický abstrakt

Deposition and analysis of utrathin multilayers by IBAD.

Klíčová slova anglicky

IBAD, CoN, Co, magnetic layers

Rok RIV

2003

Vydáno

06.10.2003

Nakladatel

ECASIA

Místo

Berlin

Kniha

ECASIA 10 Book of Abstracts

Počet stran

1

BIBTEX


@inproceedings{BUT11097,
  author="Jiří {Vais} and Jaroslav {Ženíšek} and Patrik {Jurkovič} and Jan {Čechal} and Libuše {Dittrichová} and Jiří {Spousta} and Zdeněk {Bochníček} and Tomáš {Šikola},
  title="Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films",
  booktitle="ECASIA 10 Book of Abstracts",
  year="2003",
  month="October",
  publisher="ECASIA",
  address="Berlin"
}