Detail produktu
Výukový model mikroskopu SPM
ŠULC, D. ŠTEFKO, M. WERTHEIMER, P. NOVÁČEK, Z.
Český název
Výukový model mikroskopu SPM
Anglický název
Educational Model of Scanning Probe Microscope
Typ
funkční vzorek
Český abstrakt
Jedná se o zvětšený funkční model mikroskopu s rastrující sondou. Model je určený pro výukové a prezentační účely. Celý vývoj hardwaru, elektroniky i softwaru výukového modelu byl proveden na ÚFI. Model mikroskopu je uzpůsoben pro měření analogie AFM, ale díky vlastnímu vývoji zařízení lze implementovat analogie dalších technik SPM. Ve stávajícím stavu model dovoluje demonstraci měření v kontaktním módu i v tzv. tapping módu, a to jak v režimu konstantní výšky, tak v režimu konstantní interakce mezi vzorkem a hrotem. Model mikroskopu je vestavěn do přenosného kufříku což dovoluje snadný transport zařízení na místo prezentace. Řízení procesu měření a zobrazování měřených dat je prováděno pomocí jednodeskového počítače vestavěného v zařízení, takže pro demonstrační měření je navíc potřebné pouze externí zobrazovací zařízení.
Anglický abstrakt
The model of a scanning probe microscope is developed for educational purposes and for presentation of SPM techniques. The developement of the hardware, electronics and software of the model was conducted at Institute of Physical Enginering, FME, BUT. The model is capable of demostrating AFM technique, but it is open and can be easily supplemented with other techniques. The impemented measurement modes are contact and tapping mode AFM, both in constant hight and constant tip-sample interaction regime. The model is fitted into a carrying case for easy transportation. The single-board computer is implemented into the microscope model for the measurement setup and data acquisiton. Only additional display is needed for the measurement.
Datum vzniku
04.08.2015
Umístění
FSI VUT v Brně, Ústav fyzikálního inřenýrsví
WWW