Detail publikace
Určení tloušťky a spektrálních závislostí indexu lomu neabsorbujících a slabě absorbujících tenkých vrstev pomocí vlnových délek souvisejících s extrémy ve spektrálních odrazivostech Určení tloušťky a spektrálních závislostí indexu lomu neabsorbujících a slabě absorbujících tenkých vrstev pomocí vlnových délek souvisejících s extrémy ve spektrálních odrazivostech Určení tloušťky a spektrálních závislostí indexu lomu neabsorbujících a slabě absorbujících tenkých vrstev pomocí vlnových délek souvisejících s extrémy ve spektrálních odrazivostech
OHLÍDAL, I. FRANTA, D. OHLÍDAL, M. NAVRÁTIL, K.
Český název
Určení tloušťky a spektrálních závislostí indexu lomu neabsorbujících a slabě absorbujících tenkých vrstev pomocí vlnových délek souvisejících s extrémy ve spektrálních odrazivostech Určení tloušťky a spektrálních závislostí indexu lomu neabsorbujících a slabě absorbujících tenkých vrstev pomocí vlnových délek souvisejících s extrémy ve spektrálních odrazivostech Určení tloušťky a spektrálních závislostí indexu lomu neabsorbujících a slabě absorbujících tenkých vrstev pomocí vlnových délek souvisejících s extrémy ve spektrálních odrazivostech
Anglický název
Determination of thicknesses and spectral dependences of refractive indices of non-absorbing and weakly absorbing thin films using the wavelengths related to extrema in spectral reflectances
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
en
Originální abstrakt
A new efficient modication of the method enabling us to perform the optical characterization of non-absorbing and weakly absorbing thin films without using the absolute values of reflectances measured is presented. This modification is based on determining the values of the wavelengths corresponding to the points where the spectral dependences of reflectances of studied films measured for several angles of incidence touch the envelopes of maxima and minima of these spectral dependences. Using a simple formula containing the wavelengths mentioned one can evaluate the values of the thicknesses and spectral dependences of the refractive indices of the films analyzed.
Český abstrakt
viz angl.
Anglický abstrakt
A new efficient modication of the method enabling us to perform the optical characterization of non-absorbing and weakly absorbing thin films without using the absolute values of reflectances measured is presented. This modification is based on determining the values of the wavelengths corresponding to the points where the spectral dependences of reflectances of studied films measured for several angles of incidence touch the envelopes of maxima and minima of these spectral dependences. Using a simple formula containing the wavelengths mentioned one can evaluate the values of the thicknesses and spectral dependences of the refractive indices of the films analyzed.
Klíčová slova česky
Tenké vrstvy, Spektrální odrazivost, Optické parametry
Klíčová slova anglicky
Thin films, Spectral reflectance, Optical parameters
Rok RIV
2001
Vydáno
01.01.2001
ISSN
0042-207X
Ročník
61
Číslo
1
Strany od–do
285–289
Počet stran
5
BIBTEX
@article{BUT39658,
author="Ivan {Ohlídal} and Daniel {Franta} and Miloslav {Ohlídal} and Karel {Navrátil},
title="Determination of thicknesses and spectral dependences of refractive indices of non-absorbing and weakly absorbing thin films using the wavelengths related to extrema in spectral reflectances",
year="2001",
volume="61",
number="1",
month="January",
pages="285--289",
issn="0042-207X"
}