Detail publikace
Spektroskopie rozptýlených iontů o nízké energii jako metoda strukturní analýzy povrchů
KOLÍBAL, M. PRŮŠA, S. BÁBOR, P. ŠIKOLA, T.
Český název
Spektroskopie rozptýlených iontů o nízké energii jako metoda strukturní analýzy povrchů
Anglický název
Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
en
Originální abstrakt
Paper dals with a low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. The ToF LEIS instrumentation is presented.
Český abstrakt
Článek se zabývá spektroskopií rozptýlených iontů o nízké energii jako metoda strukturní analýzy povrchů a popisuje používané experimentální zařízení.
Anglický abstrakt
Paper dals with a low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. The ToF LEIS instrumentation is presented.
Klíčová slova anglicky
Ga, ToF, LEIS, structural analysis
Rok RIV
2004
Vydáno
01.01.2004
ISSN
0447-6441
Časopis
Jemná mechanika a optika
Ročník
9
Číslo
9
Počet stran
4
BIBTEX
@article{BUT42365,
author="Miroslav {Kolíbal} and Stanislav {Průša} and Petr {Bábor} and Tomáš {Šikola},
title="Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis",
journal="Jemná mechanika a optika",
year="2004",
volume="9",
number="9",
month="January",
issn="0447-6441"
}