Detail publikace
Optická charakterizace mnohovrstevných systémů s náhodně drsnými rozhraními
OHLÍDAL, M. OHLÍDAL, I. VIŽĎA, F.
Český název
Optická charakterizace mnohovrstevných systémů s náhodně drsnými rozhraními
Anglický název
Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
en
Originální abstrakt
The method based on measuring and interpeting the spectral dependences of the coherent reflectance is used to determine the values of the optical and statistical parameters of three-layer and thirteen-layer systems exhibiting the randomly rough boundaries. The systems mentioned are formed by thin films of SiO2 and TiO2.
Český abstrakt
Je presentována metoda měření a interpretace spektrálních závislostí za účelem určení optických a statistických parametrů třívrstevných a třenáctivrstevných systémů s drsnými rozhraními. Systémy byly tvořeny vrstvami SiO2 a TiO2.
Anglický abstrakt
The method based on measuring and interpeting the spectral dependences of the coherent reflectance is used to determine the values of the optical and statistical parameters of three-layer and thirteen-layer systems exhibiting the randomly rough boundaries. The systems mentioned are formed by thin films of SiO2 and TiO2.
Klíčová slova česky
mnohovrstevné systémy, spektrální koheretní reflektometrie
Klíčová slova anglicky
multilayer systems, spectroscopic reflectometry
Rok RIV
1999
Vydáno
02.08.1999
Nakladatel
SPIE- The international Society for Optical Engine
Místo
San Francisco, California, USA
ISBN
0-8194-3234-2
Kniha
18th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Next Millennium
Strany od–do
150–151
Počet stran
2
BIBTEX
@inproceedings{BUT485,
author="Ivan {Ohlídal} and František {Vižďa} and Miloslav {Ohlídal},
title="Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries",
booktitle="18th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Next Millennium",
year="1999",
month="August",
pages="150--151",
publisher="SPIE- The international Society for Optical Engine",
address="San Francisco, California, USA",
isbn="0-8194-3234-2"
}