Detail publikace

AFM - nástroj studia povrchů, mikro- a nanostruktur

LOPOUR, F. ŠIKOLA, T. ŠKODA, D.

Český název

AFM - nástroj studia povrchů, mikro- a nanostruktur

Anglický název

AFM - a Tool for a Study of Surfaces, Micro- and Nanostructures.

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

en

Originální abstrakt

Atomic force microscopy (AFM) has become a powerful tool for studies of topography of solids and micro/nanostructures. In the contribution the design principles and applications of an AFM microscope developed at the institute will be presented. Particularly, the results of experiments carried out on thin films, micro- and nanostructures will be discussed. Additionally, nanostructures fabricated by AFM will be shown as well.

Český abstrakt

Mikroskopie atomárních sil (AFM) je účinným nástrojem studia topografie povrchů pevných látek a mikro/nanostruktur. Příspěvek se zabývá principy činosti a návrhem mikroskopu vytvořeného na ÚFI FSI VUT v Brně. Rovněž jsou prezentovány výsledky experimentů.

Anglický abstrakt

Atomic force microscopy (AFM) has become a powerful tool for studies of topography of solids and micro/nanostructures. In the contribution the design principles and applications of an AFM microscope developed at the institute will be presented. Particularly, the results of experiments carried out on thin films, micro- and nanostructures will be discussed. Additionally, nanostructures fabricated by AFM will be shown as well.

Klíčová slova anglicky

AFM

Rok RIV

2002

Vydáno

27.06.2001

Nakladatel

Vutium

Místo

Brno

ISBN

80-214-1892-3

Kniha

Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3)

Počet stran

6

BIBTEX


@inproceedings{BUT6291,
  author="Filip {Lopour} and Tomáš {Šikola} and David {Škoda},
  title="AFM – a Tool for a Study of Surfaces, Micro- and Nanostructures.",
  booktitle="Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3)",
  year="2001",
  month="June",
  publisher="Vutium",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1892-3"
}