Detail produktu
Teplotně stabilizovaný stolek pro holografickou mikroskopii biologických vzorků
ANTOŠ, M. JANEČKOVÁ, H. CHMELÍK, R.
Český název
Teplotně stabilizovaný stolek pro holografickou mikroskopii biologických vzorků
Anglický název
Thermally stabilized table for holographic microscopy of biological specimens
Typ
funkční vzorek
Český abstrakt
V základně mikroskopového stolu je zapuštěn prstencový teplotně stabilizovaný předmětový stolek pro umístění preparátu a referenční výškově stavitelný stolek. K základně je pohyblivě upevněn nosič pozorovací komůrky s preparátem, který lze nezávisle polohovat ve dvou navzájem ortogonálních směrech v rovině kolmé k optickým osám mikroskopových objektivů. Předmětový stolek ve tvaru prstence je vyhříván odporovým vodičem, jehož topný výkon je řízen pomocí PID mikroprocesorového regulátoru. Pro účely temperování biologických kultivátů je teplota stolku snímána polovodičovým teplotním čidlem a regulována na teplotu 37,0 stupňů Celsia s přesností 0,1 stupňů Celsia. K nastavení polohy referenční komůrky ve směru optické osy referenčního svazku je použit výškově polohovatelný referenční stolek. Vhodným nastavením polohy předmětové roviny v referenční větvi mikroskopu lze částečně eliminovat nepříznivé projevy otvorové vady.
Anglický abstrakt
Thermally stabilized table for placing specimens and height adjustment reference table are built in the base of the microscope table. Movable holder of the observation chamber is attached to the base of the microscope table. The holder can be shifted independently in two orthogonal directions perpendiculary to the optical axis of the objectives. The table for placing specimens is heated by the resistance wire. Its heating power is controlled by the PID-controller. Temperature of the table for placing specimens is held on 37 +/- 0.1 degree of centigrade in order to create of the natural environment for observed organisms. In order to adjust the height of the reference chamber, the movable table is used. The centre of the table is placed in the optical axis of the refernce beam. Its axial position can be adjusted. The spherical aberration of the image can be partially eliminated by changing the height of the object plane in the reference beam.
Datum vzniku
04.03.2008
Umístění
ÚFI FSI VUT v Brně
WWW