Detail produktu
Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur
URBÁNEK, M. UHLÍŘ, V. SPOUSTA, J. ŠIKOLA, T.
Český název
Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur
Anglický název
Apparatus for the measurement of magnetotransport properties of thin film and nanostructures
Typ
funkční vzorek
Český abstrakt
Aparatura sestává z elektromagnetu napájeného bipolárním proudovým zdrojem umožňující generování magnetického pole o indukci +- 250 mT. Rezistivita vzorků v závislosti na magnetickém poli může být měřena různými metodami (dvou/čtyřbodová, van der Pauwova). Zařízení je ovládáno z PC pomocí vlastního SW.
Anglický abstrakt
The apparatus consists of the electromagnet powered by a bipolar power supply allowing generating of the magnetic fields +-250 mT. Sample's resistivities can be measured using various methods (two/four probe, van der Pauw). Apparatus is PC controlled using proprietary software.
Datum vzniku
01.06.2008
Umístění
A2/518
WWW