Výsledky vědy a výzkumu
Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM - simulace oscilací raménka
Publikace Rok: 2001
KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F.
Graphical inputs and outputs for electron optical computations.
Publikace Rok: 2001
LENCOVÁ, B., ZLÁMAL, J., URBAN, P.
Holografická konfokální mikroskopie– zdokonalená metoda optického studia povrchů
Publikace Rok: 2001
CHMELÍK, R., HARNA, Z.
Identifikace materiálů využitím laserové spektroskopie
Publikace Rok: 2001
SAMEK, O. KRZYŽÁNEK, V. BEDDOWS, D.C. TELLE, H.H. KAISER, J. LIŠKA, M.
Images of imperfectly ordered motifs:properties, analysis, and reconstruction.
Publikace Rok: 2001
SAMEK, O.
Images of imperfectly ordered motifs:properties, analysis, and reconstruction.
Publikace Rok: 2001
SAMEK, O.
In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films
Publikace Rok: 2001
SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.
In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films
Publikace Rok: 2001
SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.
In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev
Publikace Rok: 2001
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., CHMELÍK, R., HARNA, Z., JIRUŠE, J., JÁKL, M.
In situ plošné monitorování optických vlastnotí tenkých vrstev připravovaných metodou IBAD
Publikace Rok: 2001
URBÁNEK, M., ZLÁMAL, J.
In situ plošné monitorování optických vlastnotí tenkých vrstev připravovaných metodou IBAD
Publikace Rok: 2001
URBÁNEK, M., ZLÁMAL, J.
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Publikace Rok: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Publikace Rok: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Zobrazeny výsledky 1111–1125 z 1301