Výsledky vědy a výzkumu
In situ plošné monitorování optických vlastnotí tenkých vrstev připravovaných metodou IBAD
Publikace Rok: 2001
URBÁNEK, M., ZLÁMAL, J.
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Publikace Rok: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Publikace Rok: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Je hranice krystalu vskutku nejslabším článkem dynamické teorie difrakce?
Publikace Rok: 2001
DUB, P., LITZMAN, O.
Kolorimetrická interferometrie - metoda pro experimentální studium tenkých mazacích filmů
Publikace Rok: 2001
LIŠKA, M., HARTL, M.
Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů.
Publikace Rok: 2001
TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J.
Kvantitativní interpretace závislosti rozkmitu prahových hodnot K-faktoru na střední velikosti zrna ARMCO železa.
Publikace Rok: 2001
POKLUDA, J., ŠANDERA, P., HORNÍKOVÁ, J.
Material identification using laser spectroscopy and pattern recognition algorithm
Publikace Rok: 2001
SAMEK, O., LIŠKA, M.
Měření drsnosti obráběných povrchů optickými metodami se zaměřením na povrchy vytvářené abrazivním vodním paprskem
Publikace Rok: 2001
OHLÍDAL, M.
Microheterogeneity in the Ultra-High Strength Low Alloy Steel after Three Regimes of Heat-Treatment.
Publikace Rok: 2001
DOBROVSKÁ, J., DOBROVSKÁ, V., POKLUDA, J., STRÁNSKÝ, K., MANDRINO, D., JENKO, M.
Microheterogeneity in the Ultra-High Strength Low Alloy Steel after Three Regimes of Heat-Treatment.
Publikace Rok: 2001
DOBROVSKÁ, J., DOBROVSKÁ, V., POKLUDA, J., STRÁNSKÝ, K., MANDRINO, D., JENKO, M.
Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM
Publikace Rok: 2001
MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J.
Zobrazeny výsledky 1111–1125 z 1289