Detail předmětu
Metody strukturní analýzy II
FSI-WA2 Ak. rok: 2018/2019 Zimní semestr
Specielní mikroskopické a difrakční metody (konfokální mikroskopie,mikroskopie s využitím iontového svazku ,dual beam mikroskopie, difrakce pomalých elektronů, nízkovoltová TEM,SEM pomalých elektronů,a j.) .Korektory a monochromátory v TEM. Metody analýzy povrchu.Principy dalších vybraných fyzikálních metod (akustická a laserová mikroskopie,RTG mikroskopie,Mössbauerova spektroskopie,a j.)
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
5
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Široký přehled ve vybraných oblastech i hlubší znalosti metod
studia struktury, substruktury, fázového a chemického složení
materiálů.
Prerekvizity
Studium tohoto předmětu vyžaduje znalosti základních experimentálních metod používaných pro studium struktury inženýrských materiálů (tedy zejména světelné a elektronové mikroskopie a metod lokální chemické analýzy v elektronových mikroskopech). Dále pak jsou pro pochopení obsahu předmětu nezbytné znalosti matematiky a materiálových věd alespoň na úrovni absolventa bakalářského studia strojního inženýrství.
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny. Výuka je doplněna laboratorním cvičením.
Způsob a kritéria hodnocení
Zkouška má část ústní a písemnou,pro udělení zápočtu je nezbytné písemné zpracování zadaných temat.
Učební cíle
Kurz navazuje na znalosti základních metod strukturní a fázové
analýzy, a rozšiřuje je o základní znalosti metod, používaných
zejména v základním výzkumu, ale i metod běžných v hutní analytice
a strojírenství (spektroskopické metody). Cílem je připravit
budoucí materiálové inženýry pro rychlou analýzu optimální volby
metod(y) pro řešení daného provozního problému i pro řešení úkolu
základního a aplikovaného výzkumu.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Povinná účast ve cvičeních a exkursích.Případná absence je řešena individuelně,obvykle náhradním zadáním.
Použití předmětu ve studijních plánech
Program M2A-P: Aplikované vědy v inženýrství, magisterský navazující
obor M-MTI: Materiálové inženýrství, povinný
Typ (způsob) výuky
Přednáška
26 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
1.Elektronová mikroskopie- mikroskopie s vysokým rozlišením (princip a aplikace)
2.Elektronová mikroskopie nanometrických objektů-problémy a jejich řešení ( monochromátory, korektory obrazu a svazku, aj.)
3.Nekonvenční metody elektronové mikroskopie a jejich využití (SEM pomalých elektronů, nízkovoltová TEM, aj.)
4.Mikroskopie s využitím iontového svazku (FIB), dual beam mikroskopie a její využití pro přípravu preparátů a tomografii
5.Elektronová litografie,Lorentzova mikroskopie,EBIC,
6. Principy a aplikace vybraných zobrazovacích a analytických metod I (využití akustické emise,laseru)
7. Principy a aplikace vybraných zobrazovacích a analytických metod II (RTG mikroskopie a topografie)
8.a 9.Metody analýzy povrchu (Augerova elektronová mikroskopie/spektrometrie, spektroskopie sekundárních iontů,SIMS, XPS,)
10.Konfokální mikroskopie a holografie
11.Mössbauerova spektroskopie
12. a 13. Principy a využití dalších vybraných experimentálních metod (SAXS, nukleární magnetická resonance,neutronová a protonová difrakce, elipsometrie,FIM,ECP, aj.)