Detail předmětu
Zobrazování a diagnostika nanostruktur
FSI-9ZDN Ak. rok: 2022/2023 Zimní semestr
Rastrovací sondová mikroskopie; optická mikroskopie; elektronová mikroskopie; metody zobrazující chemický kontrast; kombinované metody
Jazyk výuky
čeština
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Doktorand má možnost získat přehled o aktuálním stavu a současných metodách používaných v moderním oboru Diagnostika nanostruktur.
Prerekvizity
Předpokládají se základní znalosti z kvantové mechaniky, teorie elektromagnetického pole a fyziky pevných látek.
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Výuka bude probíhat formou přednášek nebo skupinových, popř. individuálních konzultací.
Způsob a kritéria hodnocení
Předmět je ukončen rozpravou zejména o problematice spojené s tématem disertační práce.
Učební cíle
Cílem je poskytnout přehled o metodách umožňujících zobrazování a diagnostiku 1D a 0D nanostruktur, a to jak z hlediska jejich morfologických a strukturních charakteristik, tak i lokálních elektronických, optických, elektrických i magnetických vlastností.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Účast je kontrolována.
Použití předmětu ve studijních plánech
Program D-FIN-P: Fyzikální inženýrství a nanotechnologie, doktorský, doporučený kurs
Program D-FIN-K: Fyzikální inženýrství a nanotechnologie, doktorský, doporučený kurs
Typ (způsob) výuky
Přednáška
20 hod., povinná
Osnova
Úvod do rastrovací sondové mikroskopie (SPM); rastrovací tunelovací mikroskopie (STM) – principy zobrazování pomocí tunelového proudu a měřicí mody; rastrovací silová mikroskopie (SFM) – typy sil a měřicí mody; mikroskopie atomárních sil (AFM); mikroskopie magnetických sil (MFM); mikroskopie elektrických sil (EFM) a Kelvinova silová mikroskopie (KPFM); rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (SNOM); další typy SPM; principy konstrukce SPM; elektronová a iontová mikroskopie a spektroskopie (TEM/EELS, SEM/SAM aj.); optické mikroskopické a spektroskopické metody (např. konfokální rastrovací ramanovská spektroskopie a fotoluminiscence); fotoelektronová spektroskopie (XPS); iontová hmotnostní spektrometrie (SIMS); rozptyl pomalých iontů (LEIS); kombinované metody (např. STL, katodoluminiscence, TERS aj.).