Detail předmětu

Základy vědecké metrologie a řízení kvality

FSI-9ZVM Ak. rok: 2022/2023 Celoroční semestr

Předmět je zaměřen na zvládnutí základů vědecké metrologie, teorie chyb a nejistot měření. Studenti se seznámí s metodami řízení procesů, systémovou a statistickou analýzou aplikovatelnou v řízení podniku i dílčích procesů. Studenti rovněž pochopí pravidla identifikace procesů a výběru statistických znaků procesů sériové a kusové výroby. Studenti zvládnou pravidla sběru a třídění dat, jejich analýzu a využití pro statistickou regulaci procesů.

Jazyk výuky

čeština

Garant předmětu

doc. Ing. Róbert Jankových, CSc.

Zajišťuje ústav

Ústav výrobních strojů, systémů a robotiky

Výsledky učení předmětu

Student získá ve smyslu uvedené anotace rozsáhlé a komplexní znalosti z oblasti vědecké metrologie a systémů řízení kvality, které mu umožní se v průmyslové praxi erudovaně zapojit do řešení různých souvisejících problémů.

Prerekvizity

Předpokládají se znalosti ze základů metrologie, technologií a materiálů, dále znalosti fyziky a aplikované statistiky a základní znalosti managementu kvality.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny.

Způsob a kritéria hodnocení

Zkouška z oblasti problematiky dle osnovy a její aplikace v dané semestrální práci.

Učební cíle

Cílem předmětu „Základy vědecké metrologie a řízení kvality“ je získání teoretických a praktických znalostí z oblasti vědecké metrologie a systémů řízení kvality tak, aby byli doktorandi schopni samostatně řešit konkrétní vědecké úkoly v této oblasti.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Předmět je realizován formou přednášek a konzultací, je kontrolovaná účast.

Použití předmětu ve studijních plánech

Program D-KPI-K: Konstrukční a procesní inženýrství, doktorský, doporučený kurs

Program D-KPI-P: Konstrukční a procesní inženýrství, doktorský, doporučený kurs

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

20 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Róbert Jankových, CSc.

Osnova

1. Úvod do vědecké metrologie, metrologický konfirmační systém
2. Chyby měření a jejich eliminace
3. Správnost a preciznost měření za podmínek opakovatelnosti a
reprodukovatelosti
4. Nejistota měření
5. Statistické nástroje v metrologii
6. Statistická regulace procesů. Obecná pravidla pro statistickou regulaci.
7. Statistická regulace měřením. Regulační diagramy.
8. Způsobilost procesů. Indexy krátkodobé a dlouhodobé způsobilosti.
9. Způsobilost měřidel.
10. Statistická regulace srovnáváním. Regulační diagramy.