Detail předmětu
Metody strukturní analýzy II
FSI-WA2 Ak. rok: 2023/2024 Zimní semestr
Předmět navazuje na kurz Metody strukturní analýzy I a pokrývá témata:
Spektroskopické metody pro zjišťování makroskopického chemického složení pevných látek, elektronové a sondové mikroskopické metody studia povrchů, spektroskopické metody pro analýzy tenkých vrstev a povrchů, vybrané metody analýzy organických látek, tomografické techniky a 3D analýzy, metody studia magnetických vlastností materiálů.
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
5
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Vstupní znalosti
Studium tohoto předmětu vyžaduje znalosti základních experimentálních metod používaných pro studium struktury inženýrských materiálů (tedy zejména světelné a elektronové mikroskopie a metod lokální chemické analýzy v elektronových mikroskopech). Dále pak jsou pro pochopení obsahu předmětu nezbytné znalosti matematiky a materiálových věd alespoň na úrovni absolventa bakalářského studia strojního inženýrství.
Pravidla hodnocení a ukončení předmětu
Klasifikovaný zápočet je udělen na základě hodnocení vypracovaných protokolů ze cvičení.
Povinná účast ve cvičeních a exkurzích. Případná absence je řešena individuálně.
Učební cíle
Spolu s předmětem Metody strukturní analýzy I poskytnout přehled o analytických technikách, které může materiálový specialista potřebovat jak v praxi, tak i ve výzkumu.
Přehled o mikroskopických a analytických technikách pro průmyslovou praxi rozšířen o pokročilé metody, používané ve výzkumu a při řešení komplexních problémů.
Použití předmětu ve studijních plánech
Program N-MTI-P: Materiálové inženýrství, magisterský navazující, povinně volitelný
Typ (způsob) výuky
Přednáška
26 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Uvedené nominální pořadí témat se může měnit podle organizačních možností při zajišťovaní praktických demonstrací.
- metody zjišťování makroskopického chemického složení (úvod)
- optická emisní spektroskopie (OES)
- atomová absorpční spektroskopie (AAS)
- spalovací analyzátory C,N,O,H
- mikroskopie a spektroskopie Augerových elektronů (AEM/AES)
- spektroskopie sekundárních iontů (SIMS)
- RTG fotoelektronová spektroskopie (XPS)
- Ramanova a IR spektroskopie (FTIR)
- mikroskopie s rastrující sondou (STM, AFM, SNOM)
- kombinované techniky mikro/spektro-skopické (TERS, SERS)
- pokročilé RTG difrakční a rozptylové techniky (SAXS, GISAXS, RTG topografie, synchrotron)
- neutronová difrakce
- Mössbauerova spektroskopie
- metody měření magnetických vlastností materiálů
- RTG tomografie, mikro a nanotomografie
- destruktivní tomografické techniky (3D FIB)
Laboratorní cvičení
26 hod., povinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Uvedené nominální pořadí témat se může měnit podle organizačních možností při zajišťovaní praktických demonstrací.
- optická emisní spektroskopie (OES), atomová absorpční spektroskopie (AAS), spalovací analyzátory C,N,O,H
- mikroskopie a spektroskopie Augerových elektronů (AEM/AES), spektroskopie sekundárních iontů (SIMS), RTG fotoelektronová spektroskopie (XPS)
- Ramanova a IR spektroskopie (FTIR), mikroskopie s rastrující sondou (STM, AFM, SNOM), kombinované techniky mikro/spektro-skopické (TERS, SERS)
- pokročilé RTG difrakční a rozptylové techniky
- Mössbauerova spektroskopie, metody měření magnetických vlastností materiálů
- RTG tomografie, mikro a nanotomografie, destruktivní tomografické techniky (3D FIB)