Detail publikace
Analýza tenkých vrstev pomocí ToF LEIS
PRŮŠA, S. KOLÍBAL, M. BÁBOR, P. MACH, J. JURKOVIČ, P. ŠIKOLA, T.
Český název
Analýza tenkých vrstev pomocí ToF LEIS
Anglický název
Analysis of thin films by TOF LEIS
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
en
Originální abstrakt
Structural analysis using TOF LEIS.
Český abstrakt
Strukturní analýza pomocí ToF LEIS Spektroskopie.
Anglický abstrakt
Structural analysis using TOF LEIS.
Klíčová slova anglicky
TOF LEIS, Ga, thin films
Rok RIV
2003
Vydáno
23.06.2003
Nakladatel
EVC
Místo
Berlin
Kniha
EVC'03 Abstracts
Počet stran
2
BIBTEX
@inproceedings{BUT11057,
author="Stanislav {Průša} and Miroslav {Kolíbal} and Petr {Bábor} and Jindřich {Mach} and Patrik {Jurkovič} and Tomáš {Šikola},
title="Analysis of thin films by TOF LEIS",
booktitle="EVC'03 Abstracts",
year="2003",
month="June",
publisher="EVC",
address="Berlin"
}