Detail publikace
Dvouvlnová holografická interferenční mikroskopie pro měření drsnosti povrchu
OHLÍDAL, M. ŠÍR, L. JÁKL, M. OHLÍDAL, I.
Český název
Dvouvlnová holografická interferenční mikroskopie pro měření drsnosti povrchu
Anglický název
Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
en
Originální abstrakt
A new approach to surface roughness measurement based on the digital two-wavelength holographic interference microscopy with the synthetic wavelength is presented. Two holograms of a rough surface are recorded step by step at two wavelengths of laser light by means of a CCD camera. Both holograms are numerically superposed and then reconstructed. Two reconstructed digital waves obtained numerically interfere. The surface roughness parameters can be determined from the shape of interference fringes in that interferogram created. The range of measurable height irregularities of the surface is given by the synthetic wavelength, which is indirectly proportional to the difference of the selected wavelengths.
Český abstrakt
Je prezentován nový přístup k měření drsnosti povrchu založený na použití digitální dvouvlnové holografické interferenční mikroskopii se syntetickou vlnovou délkou. Dva hologramy náhodně drsného povrchu jsou postupně při dvou vlnových délkách zaznamenány CCD kamerou. Digitální součet obou hologramů je numericky rekonstruován. Rekonstruované digitální vlny spolu numericky interferují. Parametry měřeného drsného povrchu mohou být určeny z tvaru proužků ve vzniklém digitálním interferogramu. Rozsah měřitelné drsnosti povrchu je určen syntetickou vlnovou délkou, která je nepřímo úměrná rozdílu použitých vlnových délek.
Anglický abstrakt
A new approach to surface roughness measurement based on the digital two-wavelength holographic interference microscopy with the synthetic wavelength is presented. Two holograms of a rough surface are recorded step by step at two wavelengths of laser light by means of a CCD camera. Both holograms are numerically superposed and then reconstructed. Two reconstructed digital waves obtained numerically interfere. The surface roughness parameters can be determined from the shape of interference fringes in that interferogram created. The range of measurable height irregularities of the surface is given by the synthetic wavelength, which is indirectly proportional to the difference of the selected wavelengths.
Klíčová slova česky
Digitální dvouvlnová holografická interferenční mikroskopie, měření drsnosti povrchu.
Klíčová slova anglicky
Digital two-wavelength hologgraphic interferometry, surface roughness measurement
Rok RIV
2005
Vydáno
01.07.2005
Nakladatel
SPIE - The International Society for Optical Engineering
Místo
Bellingham, Washington, USA
ISBN
0-8194-5951-8
Kniha
14 th Slovak-Czech Polish Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics
Strany od–do
59450I-1–59450I-8
Počet stran
8
BIBTEX
@inproceedings{BUT20938,
author="Miloslav {Ohlídal} and Luděk {Šír} and Miloš {Jákl} and Ivan {Ohlídal},
title="Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement",
booktitle="14 th Slovak-Czech Polish Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics",
year="2005",
month="July",
pages="59450I-1--59450I-8",
publisher="SPIE - The International Society for Optical Engineering",
address="Bellingham, Washington, USA",
isbn="0-8194-5951-8"
}