Detail publikace
Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.
KONVALINA I.
Český název
Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Práce se zabývá vypracováním metody umožňující kvantifikaci detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Cílem je studovat celý proces zpracování signálu od dopadu primárních elektronů na vzorek až po konečné zobrazení na monitoru. Při řešení tématu bude mimo jiné nutné zvládnout statistiku interakce elektronů a fotonů s pevnou látkou, problematiku vzniku šumu a kvantitativní vyhodnocování poměru signálu k šumu zpracovávaného signálu. Po vypracování teoretického modelu celé detekční trasy by měl být navržen experiment a provedena měření na konkrétním detekčním systému.
Český abstrakt
Práce se zabývá vypracováním metody umožňující kvantifikaci detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Cílem je studovat celý proces zpracování signálu od dopadu primárních elektronů na vzorek až po konečné zobrazení na monitoru. Při řešení tématu bude mimo jiné nutné zvládnout statistiku interakce elektronů a fotonů s pevnou látkou, problematiku vzniku šumu a kvantitativní vyhodnocování poměru signálu k šumu zpracovávaného signálu. Po vypracování teoretického modelu celé detekční trasy by měl být navržen experiment a provedena měření na konkrétním detekčním systému.
Klíčová slova česky
detekční účinnost, rastrovací elektronový mikroskop, detekční trasa
Vydáno
16.12.2002
Místo
BRNO
ISBN
80-238-9915-5
Kniha
PDS 2002
Počet stran
2
BIBTEX
@inproceedings{BUT21746,
author="Ivo {Konvalina},
title="Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.",
booktitle="PDS 2002",
year="2002",
month="December",
address="BRNO",
isbn="80-238-9915-5"
}