Detail publikace

Tenké vrstvy Sn-CeO2 připravené magnetronovým naprašováním: studie pomoví XPS a SIMS

MAŠEK, K. VÁCLAVŮ, M. BÁBOR, P. MATOLÍN, V.

Český název

Tenké vrstvy Sn-CeO2 připravené magnetronovým naprašováním: studie pomoví XPS a SIMS

Anglický název

Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

en

Originální abstrakt

Sn addition in the CeO2 thin film by simultaneous Sn metal and cerium oxide magnetron sputtering causes growth of Ce3+ rich films whilst pure cerium oxide sputtering provides stoichiometric CeO2 layers. Ce4+ – Ce3+ conversion is explained by a charge transfer from Sn atoms to unoccupied orbital Ce 4f0 of cerium oxide by forming Ce 4f1 state. XPS and SIMS revealed a formation of a new chemical Ce(Sn)+ state, which belongs to SnCeO2 species.

Český abstrakt

Přidání atomů Sn do tenké vrstvy CeO2 při soušasném magnetronovém naprašování Sn CeO2 způsobí růst na Ce3+ bohatých vrstev zatímco při depozice čistého CeO2 vziká stochiometrické CeO2 vrstvy.

Anglický abstrakt

Sn addition in the CeO2 thin film by simultaneous Sn metal and cerium oxide magnetron sputtering causes growth of Ce3+ rich films whilst pure cerium oxide sputtering provides stoichiometric CeO2 layers. Ce4+ – Ce3+ conversion is explained by a charge transfer from Sn atoms to unoccupied orbital Ce 4f0 of cerium oxide by forming Ce 4f1 state. XPS and SIMS revealed a formation of a new chemical Ce(Sn)+ state, which belongs to SnCeO2 species.

Klíčová slova česky

CeO2; Sn-CeO2; SIMS; XPS; Magnetronové naprašování

Klíčová slova anglicky

Cerium oxide; Tin-cerium mixed oxide; SIMS; XPS; Magnetron sputtering

Rok RIV

2009

Vydáno

15.04.2009

ISSN

0169-4332

Časopis

Applied Surface Science

Ročník

255

Číslo

13-14

Strany od–do

6656–6660

Počet stran

5

BIBTEX


@article{BUT47187,
  author="Karel {Mašek} and Michal {Václavů} and Petr {Bábor} and Vladimír {Matolín},
  title="Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study",
  journal="Applied Surface Science",
  year="2009",
  volume="255",
  number="13-14",
  month="April",
  pages="6656--6660",
  issn="0169-4332"
}