Detail publikace

Bezkontaktní rastrovací sondová mikroskopie - principy a simulace

KALOUSEK, R. ŠIKOLA, T. BUŠ, V. ŠKODA, D.

Český název

Bezkontaktní rastrovací sondová mikroskopie - principy a simulace

Anglický název

Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

en

Originální abstrakt

In the contribution, some fundamental phenomena in noncontact Scanning Force Microscopy (SFM) are studied. In this technique, the surface profile is measured by changes of resonance frequency of the vibrating cantilever. In the first part, the basic principles of noncontact SFM are described. Simulations of a tip moving and oscillating over a silicon atomic structure will be discussed in the second part.

Český abstrakt

Příspěvek se zabývá základními principy bezkontaktní SFM.

Anglický abstrakt

In the contribution, some fundamental phenomena in noncontact Scanning Force Microscopy (SFM) are studied. In this technique, the surface profile is measured by changes of resonance frequency of the vibrating cantilever. In the first part, the basic principles of noncontact SFM are described. Simulations of a tip moving and oscillating over a silicon atomic structure will be discussed in the second part.

Klíčová slova anglicky

noncontact SFM, nanostructures, interatomic forces

Rok RIV

2002

Vydáno

15.11.2001

Nakladatel

FEI VUT v Brně

Místo

Brno

ISBN

80-214-1992-X

Kniha

Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice

Počet stran

6

BIBTEX


@inproceedings{BUT6498,
  author="Radek {Kalousek} and Tomáš {Šikola} and Vladan {Buš} and David {Škoda},
  title="Noncontact Scanning Force Microscopy – Principles and Simulations",
  booktitle="Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice",
  year="2001",
  month="November",
  publisher="FEI VUT v Brně",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1992-X"
}