• Investigation of pulse characteristics of 46,9 nm Ar capillary discharge soft x-ray laser.

  Publikace Rok: 2002

  RITUCCI, A. –TOMASSETTI, G. –PALLADINO, L. –REALE, L. –GAETA, G. –FLORA, F. –MEZI, L. –KUKHLEVSKY, S.V. –KAISER, J. –FAENOV, A. –PIKUZ, T.

• Jednoduchý výpočet geometrického stínění pro interkrystalcké čelo trhliny užitím pyramidálního modelu

  Publikace Rok: 2002

  ŠANDERA, P., HORNÍKOVÁ, J., POKLUDA, J.

• Jednoduchý výpočet geometrického stínění pro interkrystalcké čelo trhliny užitím pyramidálního modelu

  Publikace Rok: 2002

  ŠANDERA, P., HORNÍKOVÁ, J., POKLUDA, J.

• Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.

  Publikace Rok: 2002

  KONVALINA I.

• Low-temperature growth of SiCAlN films of high hardness on Si(111) substrates

  Publikace Rok: 2002

  ROUČKA, R., TOLLE, J., CROZIER, P., TSONG, I., KOUVETAKIS, J., SMITH, D.

• Low-temperature growth of SiCAlN films of high hardness on Si(111) substrates

  Publikace Rok: 2002

  ROUČKA, R., TOLLE, J., CROZIER, P., TSONG, I., KOUVETAKIS, J., SMITH, D.

• New method for the complete analysis of thin films non-uniform in optical parameters

  Publikace Rok: 2002

  OHLÍDAL, M., OHLÍDAL, I., FRANTA, D., ČUDEK, V.

• Nízkoteplotní epitaxní růst kvartérních širokogapových SiCAlN

  Publikace Rok: 2002

  ROUČKA, R., TOLLE, J., CROZIER, P., CHIZMESHYA, A., TSONG, I., KOUVETAKIS, J., POWELEIT, C., SMITH, D.

• Nízkoteplotní epitaxní růst kvartérních širokogapových SiCAlN

  Publikace Rok: 2002

  ROUČKA, R., TOLLE, J., CROZIER, P., CHIZMESHYA, A., TSONG, I., KOUVETAKIS, J., POWELEIT, C., SMITH, D.

• Noncontact three-dimensional surface profiling using reflected light holographic confocal microscopy

  Publikace Rok: 2002

  ANTOŠOVÁ, I., HARNA, Z.

• Optical characterization of thin films non-uniform in thickness by a multiple-wavelength reflectance method

  Publikace Rok: 2002

  OHLÍDAL, M., OHLÍDAL, I., FRANTA, D., KRÁLÍK, T., JÁKL, M., ELIÁŠ, M.

• Popis Ar+8 laseru využívajícího kapilární výboje.

  Publikace Rok: 2002

  KAISER, J., LIŠKA, M., SAMEK, O.

• Popis optických sil působících na částici v Gaussovém poli

  Publikace Rok: 2002

  ZEMANEK P, JONAS A, LISKA M

• Profilometrie povrchů pomocí holografické mikroskopie

  Publikace Rok: 2002

  CHMELÍK, R., LOVICAR, L., HARNA, Z.

• Profilometrie povrchů pomocí konfokální mikroskopie v paralalním módu

  Publikace Rok: 2002

  CHMELÍK, R., HARNA, Z.

Zobrazeny výsledky 1036–1050 z 1289