Výsledky vědy a výzkumu
Aplikace ToF LEIS k monitorování růstu a působení teploty na ultratenké vrstvy Ga.
Publikace Rok: 2005
KOLÍBAL, M. PRŮŠA, S. TOMANEC, O. POTOČEK, M. ČECHAL, J. KOSTELNÍK, P. PLOJHAR, M. BÁBOR, P. SPOUSTA, J. MARKIN, S. BAUER, P. ŠIKOLA, T.
Corrections of Magnification and Focusing in a Cathode Lens-Equipped Scanning Electron Microscope
Publikace Rok: 2005
KÁŇOVÁ, J. ZOBAČ, M. ORAL, M. MÜLLEROVÁ, I. FRANK, L.
Dvouvlnová holografická interferenční mikroskopie pro měření drsnosti povrchu
Publikace Rok: 2005
OHLÍDAL, M. ŠÍR, L. JÁKL, M. OHLÍDAL, I.
Experimentální studium reálných povrchových nerovností v EHD bodových kontaktech
Publikace Rok: 2005
KŘUPKA, I., HARTL, M., LIŠKA, M.
Faktory ovlivňující sběrovou účinnost sekundárních elektronů v REM.
Publikace Rok: 2005
KONVALINA, I. MÜLLEROVÁ, I.
Hloubkové profilování velmi tenkých vrstev a multivrstev
Publikace Rok: 2005
BÁBOR, P. POTOČEK, M. URBÁNEK, M. MACH, J. SPOUSTA, J. DITTRICHOVÁ, L. SOBOTA, J. BOCHNÍČEK, Z. ŠIKOLA, T.
Hloubkové profilování velmi tenkých vrstev a multivrstev pomocí DSIMS
Publikace Rok: 2005
BÁBOR, P. POTOČEK, M. URBÁNEK, M. MACH, J. SPOUSTA, J. DITTRICHOVÁ, L. SOBOTA, J. BOCHNÍČEK, Z. ŠIKOLA, T.
Hodnocení účinnosti úpravy horní hrany protihlukové bariéry
Publikace Rok: 2005
PILCH, J., DOLOŽÍLEK, M., RYNDOVÁ, A.
In situ analýza ultratenkých vrstev Ga pomocí ToF LEIS
Publikace Rok: 2005
KOLÍBAL, M. PRŮŠA, S. PLOJHAR, M. BÁBOR, P. POTOČEK, M. TOMANEC, O. MARKIN, S. BAUER, P. ŠIKOLA, T.
In-situ UV degradace PMPSi studovaná spektroskopickou elipsometrií, XPS a TDS
Publikace Rok: 2005
BONAVENTUROVÁ - ZRZAVECKÁ, O. BRANDEJSOVÁ, E. ČECHAL, J. POTOČEK, M. NEBOJSA, A. NAVRÁTIL, K. ŠIKOLA, T. HUMLÍČEK, J.
Interferenční mikroskop s osvětlením nízké koherence v transmisním modu
Publikace Rok: 2005
KOLMAN, P. CHMELÍK, R. LOVICAR, L. SUCHOMEL, F.
Zobrazeny výsledky 856–870 z 1301