Výsledky vědy a výzkumu
Analýza tenkých vrstev pomocí ToF LEIS
Publikace Rok: 2003
PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T.
Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur
Publikace Rok: 2003
ŠKODA, D., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., BURIAN, D., SPOUSTA, J., MATĚJKA, F., ŠIKOLA, T.
Aplikace jednoduchého zobrazovacího systému v SIMS a TOF LEIS.
Publikace Rok: 2003
BÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T.
Autokorelační funkce součtu dvou spektrálně dekorelovaných polí koherenční zrnitosti - srovnání Fresnelovy a Fraunhoferovy aproximace
Publikace Rok: 2003
PRAŽÁK, D. OHLÍDAL, M.
Bezkontaktní AFM - Simulace zobrazení reálných struktur.
Publikace Rok: 2003
KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T.
Characterization of polyolefinic hollow fibers membrane at a microscopic level
Publikace Rok: 2003
DOHNAL, M. PLEŠEK, M. TVARŮŽEK, P. ŠKODA, D. ŠIKOLA, T.
Charakterizace tenkých vrstev neuniformních v optických parametrech pomocí spektroskopické digitální reflektometrie
Publikace Rok: 2003
OHLÍDAL, I. OHLÍDAL, M. KLAPETEK, P. ČUDEK, V. JÁKL, M.
Depozice a in situ charakterizace ultra-tenkých vrstev
Publikace Rok: 2003
VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T.
Depozice CoN vrstev metodou IBAD
Publikace Rok: 2003
VAIS, J. ŽENÍŠEK, J. MRÁZ, M. DITTRICHOVÁ, L. SPOUSTA, J. RAFAJA, D. ŠIKOLA, T.
Digitální laserový holografický interferenční mikroskop
Produkt Rok: 2003
OHLÍDAL, M. JÁKL, M. KRŠEK, J. LENK, J. ŠÍR, L.
In situ studium smíšeného mazání reálných třecích povrchů optickými interferenčními metodami
Publikace Rok: 2003
LIŠKA, M., HARTL, M., FUIS, V.
In-situ analýza PMPSi pomocí spektroskopické elipsometrie a XPS.
Publikace Rok: 2003
ČECHAL, J., TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., BONAVENTUROVÁ - ZRZAVECKÁ, O., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., ŠIKOLA, T.
Zobrazeny výsledky 976–990 z 1301