Výsledky vědy a výzkumu
AFM - nástroj studia povrchů, mikro- a nanostruktur
Publikace Rok: 2001
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D.
Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy
Publikace Rok: 2001
FRANTA, D., OHLÍDAL, I., KLAPETEK, P., POKORNÝ, P., OHLÍDAL, M.
Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy
Publikace Rok: 2001
FRANTA, D., OHLÍDAL, I., KLAPETEK, P., POKORNÝ, P., OHLÍDAL, M.
Aplikace optických metod na analýzu povrchů vytvořených abrazivními vodními svazky
Publikace Rok: 2001
VALÍČEK, J., DRŽÍK, M., OHLÍDAL, M., HLAVÁČ, L.
Aplikace ToF - LEIS pro analýzu povrchů a velmi tenkých vrstev.
Publikace Rok: 2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P.
Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures
Publikace Rok: 2001
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D.
Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures
Publikace Rok: 2001
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D.
Application of optical spatial filtering in quality control of glass jewellery products
Publikace Rok: 2001
OHLÍDAL, M., VRÁNA, J., MICHÁLEK, A., PRAŽÁK, D., JÁKL, M.
Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultrathin Film Analysis
Publikace Rok: 2001
TICHOPÁDEK, P. ŠIKOLA, T. NEBOJSA, A. ČECHAL, J.
Aproximální výpočet stínícího efektu na čele interkrystalické trhliny pomocí pyramidálního modelu.
Publikace Rok: 2001
ŠANDERA, P., HORNÍKOVÁ, J., POKLUDA, J.
Bezkontaktní rastrovací sondová mikroskopie - principy a simulace
Publikace Rok: 2001
KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., BUŠ, V., ŠKODA, D.
Capillary discharge experiment for collisional excitation soft X-ray laser
Publikace Rok: 2001
KUKHLEVSKY, S.V. –KAISER, J. –REALE, A. –TOMASSETTI, G. –PALLADINO, L. –RITUCCI, A. –LIMONGI, T. –FLORA, F. –MEZI, L.
Zobrazeny výsledky 1081–1095 z 1301